在传感器样品的应力不敏感区开一个通气孔, 一般是电缆出线所在区域, 使得传感器内部密封腔体始终与外部大气相通。然后重复上述温度循环实验, 并对两次的试验数据进行对比。传感器样品在焊接密封状态下的零点输出随温度变化的曲线图。
传感器样品在通气状态下的零点输出随温度变化的曲线图, 。通过对比试验可以看出, 传感器样品在密封状态下, 其零点输出在温度恒定状态下存在缓慢的漂移现象。当传感器样品在通气状态下, 其零点输出在恒温下保持稳定, 没有出现明显的漂移现象。因此, 我们可以假设, 传感器样品的零点输出不稳定是由于传感器密封腔体内的压力发生改变引起的:当外界温度变化时, 传感器密封腔体中的气体压力随温度变化而发生变化, 此时传感器内外压力不平衡会产生压力作用于弹性体上, 较终导致传感器输出的异常变化。